国产IC芯片自动化测试系统ATECLOUD，助力芯片测试自动化
IC芯片测试成本是影响制造和加工成本的重要因素。在某些情况下，测试成本可能占到器件总成本的40%左右。为了降低测试成本，可以优化测试程序并研发多工位测试。同时，必须平衡良品率和测试时间，以实现最佳的成本控制。本篇文章纳米软件Namisoft将为大家分享国产IC芯片测试种类及
国产IC芯片自动化测试系统。
IC芯片测试通常的测试项目种类：
• 功能测试：真值表，算法向量生成。
• 直流参数测试：开路/短路测试，输出驱动电流测试，漏电电源测试，电源电流测试，转换电平测试等。
• 交流参数测试：传输延迟测试，建立保持时间测试，功能速度测试，存取时间测试，刷新/等待时间测试，上升/下降时间测试。
直流参数测试
直流测试是基于欧姆定律的用来确定器件电参数的稳态测试方法。比如，漏电流测试就是在输入管脚施加电压，这使输入管脚与电源或地之间的电阻上有电流通过，然后测量其该管脚电流的测试。输出驱动电流测试就是在输出管脚上施加一定电流，然后测量该管脚与地或电源之间的电压差。
通常的DC测试包括 :
• 接触测试（短路~开路）：这项测试保证测试接口与器件正常连接。接触测试通过测量输入输出管脚上保护二极管的自然压降来确定连接性。二级管上如果施加一个适当的正向偏置电流，二级管的压降将是0.7V左右，因此接触测试就可以由以下步骤来完成：
1.所有管脚设为0V，
2.待测管脚上施加正向偏置电流”I”，
3.测量由”I”引起的电压，
4.如果该电压小于0.1V，说明管脚短路，
5.如果电压大于1.0V，说明该管脚开路，
6.如果电压在0.1V和1.0V之间，说明该管脚正常连接。
• 漏电（IIL,IIH,IOZ）：理想条件下，可以认为输入及三态输出管脚和地之间是开路的。但实际情况，它们之间为高电阻状态。它们之间的最大的电流就称为漏电流，或分别称为输入漏电流和输出三态漏电流。漏电流一般是由于器件内部和输入管脚之间的绝缘氧化膜在生产过程中太薄引起的，形成一种类似于短路的情形，导致电流通过。
• 三态输出漏电（IOZ）：是当管脚状态为输出高阻状态时，在输出管脚使用VCC（VDD）或GND（VSS）驱动时测量得到的电流。三态输出漏电流的测试和输入漏电测试类似，不同的是待测器件必须被设置为三态输出状态
• 转换电平（VIL，VIH）：转换电平测量用来决定器件工作时VIL和VIH的实际值。（VIL是器件输入管脚从高变换到低状态时所需的最大电压值，相反，VIH是输入管脚从低变换到高的时候所需的最小电压值）。这些参数通常是通过反复运行常用的功能测试，同时升高（VIL）或降低（VIH）输入电压值来决定的。那个导致功能测试失效的临界电压值就是转换电平。这一参数加上保险量就是VIL或VIH规格。保险量代表了器件的抗噪声能力。
• 输出驱动电流（VOL，VOH，IOL，IOH）：输出驱动电流测试保证器件能在一定的电流负载下保持预定的输出电平。VOL和VOH规格用来保证器件在器件允许的噪声条件下所能驱动的多个器件输入管脚的能力。
• 电源消耗（ICC，IDD，IEE）：该项测试决定器件的电源消耗规格，也就是电源管脚在规定的电压条件下的最大电流消耗。电源消耗测试可分为静态电源消耗测试和动态电源消耗测试。静态电源消耗测试决定器件在空闲状态下时最大的电源消耗，而动态电源消耗测试决定器件工作时的最大电源消耗。
交流参数测试
交流参数测试测量器件晶体管转换状态时的时序关系。交流测试的目的是保证器件在正确的时间发生状态转换。输入端输入指定的输入边沿，特定时间后在输出端检测预期的状态转换。
常用的交流测试有传输延迟测试，建立和保持时间测试，以及频率测试等。
传输延迟测试是指在输入端产生一个状态（边沿）转换和导致相应的输出端的状态（边沿）转换之间的延迟时间。该时间从输入端的某一特定电压开始到输出端的某一特定电压结束。
IC芯片自动测试系统平台——ATECLOUD
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ATECLOUD智能云测试平台，提供丰富的设备库和测试解决方案，旨在帮助用户快速搭建自动化测试系统，可应用于芯片自动化测试、电源模块自动化测试、射频器件自动化测试、新能源测试等等。建立全球自动化测试生态链。系统采用分布式结构，每个服务独立运行，拥有强大的兼容性和可扩展性。