CTP IC失效现象和失效原理分析

CTP IC的失效现象和原理分析涉及多个方面，包括电气特性、环境应力、设计缺陷等，今天就常见的几个失效现象和简单失效原理分析，不足的地方欢迎朋友们指出

IC失效现象汇总

复现手法	结果	现象分析
整机组装后出现 老化后出现 LCD noise Power noise EMC测试 ESD/EFT/CS等	异常	无触摸 乱跳点 鬼触摸

当接不良品现象复现之后,按下文的思维导图方向排查,找到问题点也就是手拿把掐的事儿

1. 失效现象:无触摸分析思维导图

2, 失效现象:乱跳点分析思维导图

3 . 必备辅助分析工具. 如果不会使用,没有或缺少这些工具,不用浪费时间分析了(看也看不见,摸也摸不着)

• 万用表：测量电压、电流，二极管特性，元件短路

• 示波器：TX波形、上电时序

• LA/USB分析仪：IIC/串口/USB通讯封包

• ADB：Debug使用，整机抓取TP数据

• BUS hound：抓取USB/IIC报点信息(windows系统)

• ITS tool：TP调试工具

• Sensor test：TP产测工具

4.EMC测试

ESD单体和整机都可以测,如果结构设计没有致命性失误,电子设计建立了可靠性的静电释放通道,基本都可以满足要求.

EFT/CS等测试问题基本出在整机EMC的防护,或CTP初始FW与整机环境不匹配上.

这个时候应用工程师就要出手了,解TP工程师之围

反正我没有遇到过TP模组工程师懂整机应用的.

5. noise,俗称"干扰"

对于CTP来说,noise两大来源

power noise：电源干扰

LCD  noise：LCD对TP的干扰

简单判断noise来源的方法

power noise：RX方向跳点，手摸金属后盖（接通GND）会好，切换电源会有改善

LCD  noise：TX方向跳点，关掉LCD会好

Noise数据特征:

LCD noise为TX方向抖动

Power noise为RX方向抖动，下图为有Power noise，三指共RX数据