【芯片设计- RTL 数字逻辑设计入门 番外篇 7.1 -- 基于ATE的IC测试原理】

转自：漫谈大千世界 漫谈大千世界 2024年10月23日 23:17 湖北

ATE 测试概述

ATE（Automatic Test Equipment）是用于检测集成电路（IC）功能完整性的自动测试设备。它在半导体产业中扮演着至关重要的角色，主要用于检测IC的各种参数，如直流参数、交流参数和功能测试等，以评估芯片的性能、功能和可靠性。ATE测试的基本原理是通过测试向量对芯片施加激励，测量芯片的响应输出，并与预期结果进行比较，从而判断芯片是否符合规格要求。

ATE测试可以分为几个关键步骤：

• 直流参数测试：这是一种稳态测试方法，用于确定器件的电气参数，包括接触测试、漏电流测试、转换电平测试、输出电平测试和电源消耗测试等。
• 交流参数测试：这种测试关注与时间相关的参数，如工作频率、输入信号输出信号随时间的变化关系等。常见的测量参数包括上升和下降时间、传输延迟、建立和保持时间以及存储时间等。
• 功能测试：功能测试模拟IC的实际工作状态，输入一系列有序或随机组合的测试图形ÿ